冠層分析儀采用的原理是冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)是相關(guān)的，根據(jù)關(guān)系穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這也是采用了對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法。其實關(guān)于冠層分析儀的設(shè)計原理什么的對于使用者而言不是特別重要的，重要的是冠層分析儀的應(yīng)用范圍及其功能特點。
　　
　　冠層分析儀廣泛適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、植物群體對比與發(fā)展的研究與教學(xué)中農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析。能測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)(LAI)和葉片平均傾角(MTA)等。
　　
　　冠層分析儀隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點取樣，即時決定圖像的取舍。由計算機電池提供電源極其輕便、便于觀測，尤其適合完成野外繁重的觀測任務(wù)。圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域（天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū)）。對不同方向的冠層進行區(qū)域性分析時，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠層部分（如缺株、邊行問題等）。對不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件。